仪器名称: 半导体测试数据采集
| 仪器编号: 1716267S |
| 仪器型号: H15ES高精度低漏电 |
| 购置日期: 2017-12-25 |
| 单价(万元): 16.50 |
| 厂家: 和创汇众 |
| 技术指标: 高精密采集硬件 |
| 仪器介绍: |
| 存放位置：材料学院B楼339室 |
| 保管单位：材料科学与工程学院 |
| 管理负责人：陶立 |
| 共享: 预约仪器 |
| 预约须知: |
| 收费参考标准: |
| 主要功能: 精密半导体材料及器件的电学表征。具备多种扫描测试功能（阶状、多通道、脉冲）、IV测试、CV测试、C-t/C-f测试、射频测试，分辨率100fA/100nV，最高偏压210V |
| 仪器设备开放时间: 详情请查看仪器预约表 |